高低溫沖擊試驗箱,溫循沖擊箱是模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。
高低溫沖擊試驗箱,溫循沖擊箱簡介:
高低溫沖擊試驗箱是模擬GB/T10589-2008低溫試驗箱等技術(shù)條件;GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件制造,主要為航天、航kong、石油、化工、軍事、汽車(摩托車)、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等。
高低溫沖擊試驗箱,溫循沖擊箱技術(shù)指標:
1. 提籃尺寸尺寸:300×300×300mm (深×寬×高)
2. 工作室尺寸:500×600×500mm (深×寬×高)
3.溫度參數(shù):
溫度沖擊范圍:-65℃~+150℃
溫度波動度:≤±0.5℃
溫度均勻度:≤2℃(空載、恒定狀態(tài)下)
溫度偏差度:±2.0℃(空載、恒定狀態(tài)時)
轉(zhuǎn)換時間:≤10S
溫度恢復時間:≤5 min
4.溫度沖擊方式
通過試驗樣品在測試室移動,左右移動拉動樣品在高溫室和低溫室之間進行溫度沖擊。
兩箱式溫度循環(huán)沖擊,試樣物品在移動提籃中,循環(huán)過程自動控制,停留及轉(zhuǎn)換時間可調(diào)
5.滿足標準
GB/T 2423.22 -2012Na 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗;
GB 10592-2008高、低溫試驗箱技術(shù)條件;
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;